在光通信、数据中心和人工智能等领域,硅光子技术凭借其高集成度、低成本和CMOS工艺兼容性,正成为下一代光互联的核心驱动力。然而,光纤与硅光子芯片的高效耦合一直是技术难点——尤其是如何在实现高效率的同时兼容偏振分集。近日,一项发表在《IEEEPHOTONICS JOURNAL》的研究提出了一种基于多极辐射模式增强的双层二维光栅耦合器[1],为硅光子器件的规模化应用提供了新思路。本文将从技术背景、设计原理、实验结果展开解析。
硅光子技术的核心优势在于其高折射率对比度,可实现超紧凑的光学器件。然而,光纤(模式直径约10μm)与硅波导(亚微米尺寸)之间的模式尺寸差异巨大,导致耦合效率低下。
传统解决方案的局限:
边缘耦合器:需高精度切割芯片端面,成本高且难以规模化;
一维光栅耦合器:虽支持晶圆级测试,但仅对特定偏振光高效,实际应用中光的偏振态复杂多变,导致性能波动;
二维光栅耦合器:理论上可实现偏振分集(将任意偏振光分解为两个正交模式),但效率受限于工艺—主流220nm SOI平台与193nm光刻技术下,如何平衡结构复杂度与耦合效率成为关键。
此前研究[2]虽通过加厚硅层或复杂纳米结构提升效率,但特征尺寸或工艺兼容性不足。而本篇文章通过双层级介质结构(70nm浅刻蚀孔阵列+160nm多晶硅齿阵列)激发多极辐射模式,在保证工艺兼容性的同时显著提升方向性与耦合效率,为硅光子芯片的商用化铺平道路。

图1完全垂直二维光栅耦合器示意图
1. 多极辐射模式:从电偶极子到磁四极子
光栅耦合器的效率取决于其将光能定向辐射至光纤的能力,即“方向性”。传统设计主要依赖电偶极子辐射,但方向性有限。本研究的创新点在于通过结构设计激发高阶多极模式(如磁偶极子、电四极子),从而增强辐射方向性。
根据论文中的理论分析,辐射场可分解为电偶极矩(P)、磁偶极矩(M)、环形偶极矩(T)、电四极矩(Qαβ)和磁四极矩(Mαβ)。实验表明,磁偶极子与电四极电四极矩的贡献占主导,如图2所示,其辐射功率比传统电偶极子高一个量级,显著提升方向性至75%(较单层结构提升20%)。

图2多极分解的辐射功率
2. 双层级结构:工艺兼容性的巧妙平衡
研究团队采用双层设计:

图3光栅耦合器的俯视图和横截面图
该设计充分利用商用193nm DUV光刻工艺,最小特征尺寸为180nm,与现有硅光代工厂(如imec)的制造流程完全兼容。此外,末端集成的硅反射器(宽度365nm,间距360nm)进一步减少能量损耗。
1. 仿真优化:遗传算法与有效介质理论
为降低3D FDTD仿真的计算成本,团队采用有效介质理论(EMT)简化模型,结合遗传算法优化结构参数(如孔周期、齿尺寸等)。仿真结果显示,峰值耦合效率达-2.37dB(58%),3dB带宽30nm。

图4光栅耦合器的耦合效率和背向反射
2. 制造容差分析:工艺鲁棒性验证
研究团队系统评估了刻蚀深度、孔径偏差、多晶硅齿尺寸误差等对性能的影响,结果显示:
刻蚀深度偏差±10nm时,效率仍>50%;
多晶硅齿直径误差<40nm时,波长偏移可控;
双层对准偏差容限达60nm(y方向),确保量产可行性。
3. 实测结果:效率与偏振稳定性
通过imec多项目晶圆(MPW)流片,实测峰值效率为-2.54dB,1dB带宽12.9nm,3dB带宽23.4nm(图5b)。偏振相关损耗(PDL)<0.3dB(图5c),且光纤对准偏差2μm内效率仍优于-3.5dB(图5d),显著降低封装成本。

图5(a)所制造的光子集成电路的显微图像,测量的二维光栅耦合器的(b)耦合效率(c)偏振相关损耗(d)峰值耦合效率
本篇文章的研究通过多极辐射模式增强与双层级结构设计,在商用工艺平台上实现了高效、低偏振敏感的二维光栅耦合器,解决了一个高效的和偏振分集的光纤芯片耦合的挑战,为硅光子技术的规模化应用扫清关键障碍。利用多极辐射模式的设计方法也可以应用于其他集成光学平台,例如SOI上的Si3N4或薄膜铌酸锂,以实现光纤和光子集成电路之间的高效偏振多样性接口。未来,随着带宽优化与集成度提升,这一技术有望成为光互联领域的“标准配置”,推动从数据中心到量子计算的全新变革。
参考:
[1]Zhou, Wu, et al. "Efficient Polarization-Diversity Grating Coupler with Multipolar Radiation Mode Enhancement." IEEE Photonics Journal (2025).
[2]Z. Zhang et al., “High-efficiency two-dimensional perfectly vertical grat ing coupler with ultra-low polarization dependent loss and large fibre misalignment tolerance,” IEEE J. Quantum Electron., vol. 57, no. 5, Oct. 2021, Art. no. 8400407.
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